TY  - RPRT
TI  - Electroforming Kinetics in HfOx/Ti RRAM: Mechanisms Behind Compositional and Thermal Engineering
AU  - Manasa Kaniselvan
AU  - Kevin Portner
AU  - Donato Francesco Falcone
AU  - Valeria Bragaglia
AU  - Jente Clarysse
AU  - Laura Bégon-Lours
AU  - Marko Mladenović
AU  - Bert J. Offrein
AU  - Mathieu Luisier
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2505.06809
ID  - 2505.06809
ER  -