TY  - RPRT
TI  - Influence of Silicon Interlayers on Transition Layer Formation in Ti/Ni Multilayer Structures of Different Thicknesses
AU  - S. S. Sakhonenkov
AU  - A. U. Gaisin
AU  - A. S. Konashuk
AU  - A. V. Bugaev
AU  - R. S. Pleshkov
AU  - V. N. Polkovnikov
AU  - E. O. Filatova
PY  - 2025
DO  - 10.1016/j.jpcs.2025.113003
UR  - https://arxiv.org/abs/2505.08569
ID  - 2505.08569
ER  -