TY  - RPRT
TI  - Optically detected magnetic resonance of wafer-scale hexagonal boron nitride thin films
AU  - Sam C. Scholten
AU  - Jakub Iwański
AU  - Kaijian Xing
AU  - Johannes Binder
AU  - Aleksandra K. Dąbrowska
AU  - Hark H. Tan
AU  - Tin S. Cheng
AU  - Jonathan Bradford
AU  - Christopher J. Mellor
AU  - Peter H. Beton
AU  - Sergei V. Novikov
AU  - Jan Mischke
AU  - Sergej Pasko
AU  - Emre Yengel
AU  - Alexander Henning
AU  - Simonas Krotkus
AU  - Andrzej Wysmołek
AU  - Jean-Philippe Tetienne
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2505.21143
ID  - 2505.21143
ER  -