TY  - RPRT
TI  - On the origin of the E1 electron trap level in GaN and dilute AlxGa1-xN films
AU  - Piotr Kruszewski
AU  - Jose Coutinho
AU  - Vladimir P. Markevich
AU  - Pawel Prystawko
AU  - Lijie Sun
AU  - Jerzy Plesiewicz
AU  - Chris A. Dawe
AU  - Matthew P. Halsall
AU  - Anthony R. Peaker
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2506.10566
ID  - 2506.10566
ER  -