TY  - RPRT
TI  - STEM Diffraction Pattern Analysis with Deep Learning Networks
AU  - Sebastian Wissel
AU  - Jonas Scheunert
AU  - Aaron Dextre
AU  - Shamail Ahmed
AU  - Andreas Bayer
AU  - Kerstin Volz
AU  - Bai-Xiang Xu
PY  - 2025
DO  - 10.1016/j.matdes.2025.115069
UR  - https://arxiv.org/abs/2507.01889
ID  - 2507.01889
ER  -