TY  - RPRT
TI  - Large-scale characterization of Single-Hole Transistors in 22-nm FDSOI CMOS Technology
AU  - Thomas H. Swift
AU  - Alberto Gomez-Saiz
AU  - Virginia N. Ciriano-Tejel
AU  - David F. Wise
AU  - Grayson M. Noah
AU  - John J. L. Morton
AU  - M. Fernando Gonzalez-Zalba
AU  - Mark A. I. Johnson
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2507.21306
ID  - 2507.21306
ER  -