TY  - RPRT
TI  - Defect-Charge-Driven 90° Switching in HfO2
AU  - Muting Xie
AU  - Hongyu Yu
AU  - Zhihao Dai
AU  - Yingfen Wei
AU  - Changsong Xu
AU  - Hongjun Xiang
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2509.20828
ID  - 2509.20828
ER  -