TY  - RPRT
TI  - Hysteresis Measurements as a Diagnostic Tool: A Systematic Approach for Stability Benchmarking and Performance Projection of 2D-Materials-Based MOSFETs
AU  - Alexander Karl
AU  - Dominic Waldhoer
AU  - Theresia Knobloch
AU  - Axel Verdianu
AU  - Joël Kurzweil
AU  - Mina Bahrami
AU  - Mohammad Rasool Davoudi
AU  - Pedram Khakbaz
AU  - Bernhard Stampfer
AU  - Seyed Mehdi Sattari-Esfahlan
AU  - Yury Illarionov
AU  - Aftab Nazir
AU  - Changze Liu
AU  - Saptarshi Das
AU  - Xiao Renshaw Wang
AU  - Junchuan Tang
AU  - Yichi Zhang
AU  - Congwei Tan
AU  - Ye Li
AU  - Hailin Peng
AU  - Michael Waltl
AU  - Tibor Grasser
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2509.21315
ID  - 2509.21315
ER  -