TY  - RPRT
TI  - Cryogenic growth of aluminum: structural morphology, optical properties, superconductivity and microwave dielectric loss
AU  - Wilson J. Yánez-Parreño
AU  - Teun A. J. van Schijndel
AU  - Anthony P. McFadden
AU  - Kaixuan Ji
AU  - Susheng Tan
AU  - Yu Wu
AU  - Sergey Frolov
AU  - Stefan Zollner
AU  - Raymond W. Simmonds
AU  - Christopher J. Palmstrøm
PY  - 2025
DO  - 10.1103/7kzr-571v
UR  - https://arxiv.org/abs/2510.05473
ID  - 2510.05473
ER  -