TY  - RPRT
TI  - Unveiling Retention Loss Mechanism in FeFETs with Gate-side Interlayer by Decoupling Trapped Charges and Ferroelectric Polarization
AU  - Runhao Han
AU  - Tao Hu
AU  - Jia Yang
AU  - Saifei Dai
AU  - Yajing Ding
AU  - Mingkai Bai
AU  - Xianzhou Shao
AU  - Junshuai Chai
AU  - Hao Xu
AU  - Qing Luo
AU  - Wenwu Wang
AU  - Tianchun Ye
AU  - Xiaolei Wang
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2510.15275
ID  - 2510.15275
ER  -