TY  - RPRT
TI  - Universal loss and gain characterization inside photonic integrated circuits
AU  - Haoran Chen
AU  - Ruxuan Liu
AU  - Gedalia Y. Koehler
AU  - Fatemehsadat Tabatabaei
AU  - Xiangwen Guo
AU  - Shuman Sun
AU  - Zijiao Yang
AU  - Beichen Wang
AU  - Andreas Beling
AU  - Xu Yi
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2510.18198
ID  - 2510.18198
ER  -