TY  - RPRT
TI  - Robust Material Properties in Epitaxial In$_2$Te$_3$ Thin Films Across Varying Thicknesses
AU  - Maximilian Buchta
AU  - Felix Hoff
AU  - Lucas Bothe
AU  - Niklas Penner
AU  - Christoph Ringkamp
AU  - Thomas Schmidt
AU  - Timo Veslin
AU  - Ka Lei Mak
AU  - Jonathan Frank
AU  - Dasol Kim
AU  - Matthias Wuttig
PY  - 2025
DO  - 10.1002/smll.202508738
UR  - https://arxiv.org/abs/2510.18449
ID  - 2510.18449
ER  -