TY  - RPRT
TI  - Multi-Task Deep Learning for Surface Metrology
AU  - D. Kucharski
AU  - A. Gaska
AU  - T. Kowaluk
AU  - K. Stepien
AU  - M. Repalska
AU  - B. Gapinski
AU  - M. Wieczorowski
AU  - M. Nawotka
AU  - P. Sobecki
AU  - P. Sosinowski
AU  - J. Tomasik
AU  - A. Wojtowicz
PY  - 2025
DO  - 10.3390/s25247471
UR  - https://arxiv.org/abs/2510.20339
ID  - 2510.20339
ER  -