TY  - RPRT
TI  - Unveiling the delicate "hidden" interface conditions in WS2 flakes by advanced atomic force microscopy
AU  - Yanyan Geng
AU  - Chang Li
AU  - Shuo Mi
AU  - Manyu Wang
AU  - Xinen Han
AU  - Huiji Hu
AU  - Yunzhen Wang
AU  - Haojie You
AU  - Shumin Meng
AU  - Hanxiang Wu
AU  - Jianfeng Guo
AU  - Shiyu Zhu
AU  - Yanjun Li
AU  - Yasuhiro Sugawara
AU  - Sabir Hussain
AU  - Fei Pang
AU  - Rui Xu
AU  - Zhihai Cheng
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2510.23139
ID  - 2510.23139
ER  -