TY  - RPRT
TI  - Atomic-Scale Roughness of Freestanding Oxide Membranes Revealed by Electron Ptychography
AU  - Huaicheng Yuan
AU  - Yu-Chen Liu
AU  - Li-Shu Wang
AU  - Zehao Dong
AU  - Jan-Chi Yang
AU  - Zhen Chen
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2511.00458
ID  - 2511.00458
ER  -