TY  - RPRT
TI  - Gate Dielectric Engineering with an Ultrathin Silicon-oxide Interfacial Dipole Layer for Low-Leakage Oxide-Semiconductor Memories
AU  - Fabia F. Athena
AU  - Jonathan Hartanto
AU  - Matthias Passlack
AU  - Jack C. Evans
AU  - Jimmy Qin
AU  - Didem Dede
AU  - Koustav Jana
AU  - Shuhan Liu
AU  - Tara Peña
AU  - Eric Pop
AU  - Greg Pitner
AU  - Iuliana P. Radu
AU  - Paul C. McIntyre
AU  - H. -S. Philip Wong
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2511.00786
ID  - 2511.00786
ER  -