TY  - RPRT
TI  - Investigation of the Physical Mechanism behind Retention Loss in FeFETs with MIFIFIS Gate Structure
AU  - Tao Hu
AU  - Zeqi Chen
AU  - Runhao Han
AU  - Xinpei Jia
AU  - Jia Yang
AU  - Mingkai Bai
AU  - Ruoyao Ji
AU  - Yajing Ding
AU  - Mengwei Zhao
AU  - Yuhan Li
AU  - Kaiyi Li
AU  - Wenbo Fan
AU  - Xianzhou Shao
AU  - Xiaoqing Sun
AU  - Kai Han
AU  - Jing Zhang
AU  - Yanrong Wang
AU  - Junshuai Chai
AU  - Hao Xu
AU  - Xiaolei Wang
AU  - Wenwu Wang
AU  - Tianchun Ye
PY  - 2025
UR  - https://arxiv.org/abs/2512.04658
ID  - 2512.04658
ER  -