TY  - RPRT
TI  - Breakdown characteristics of SiNx with different stoichiometries for resistive memories
AU  - A. E. Mavropoulis
AU  - I. Kanellopoulos
AU  - G. Pissanos
AU  - G. Samara
AU  - N. Vasileiadis
AU  - E. Stavroulakis
AU  - P. Normand
AU  - G. Ch. Sirakoulis
AU  - P. Dimitrakis
PY  - 2025
DO  - 10.1109/nmdc64551.2025.11234186
UR  - https://arxiv.org/abs/2512.09681
ID  - 2512.09681
ER  -