TY  - RPRT
TI  - Resistance Switching Properties of Stoichiometric and Nitrogen Implanted Silicon Nitride Nanolayers on N and P-Type Si Substrates
AU  - A. E. Mavropoulis
AU  - P. Karakolis
AU  - N. Vasileiadis
AU  - L. Sygellou
AU  - E. Stavroulakis
AU  - V. Ioannou-Sougleridis
AU  - P. Normand
AU  - G. Ch. Sirakoulis
AU  - P. Dimitrakis
PY  - 2025
DO  - 10.1109/nano63165.2025.11113675
UR  - https://arxiv.org/abs/2512.09684
ID  - 2512.09684
ER  -