TY  - RPRT
TI  - Influence of Radiation and AC Coupling on Time Performance of Analog Pixels Test Structures in 65 nm CMOS technology
AU  - Gianluca Aglieri Rinella
AU  - Luca Aglietta
AU  - Matias Antonelli
AU  - Francesco Barile
AU  - Franco Benotto
AU  - Stefania Maria Beole
AU  - Elena Botta
AU  - Giuseppe Eugenio Bruno
AU  - Domenico Colella
AU  - Angelo Colelli
AU  - Giacomo Contin
AU  - Giuseppe De Robertis
AU  - Floarea Dumitrache
AU  - Domenico Elia
AU  - Chiara Ferrero
AU  - Martin Fransen
AU  - Alessandro Grelli
AU  - Hartmut Hillemanns
AU  - Isis Hobus
AU  - Alex Kluge
AU  - Shyam Kumar
AU  - Corentin Lemoine
AU  - Francesco Licciulli
AU  - Bong-Hwi Lim
AU  - Flavio Loddo
AU  - Esther Mwetaminwa M Bilo
AU  - Magnus Mager
AU  - Davide Marras
AU  - Paolo Martinengo
AU  - Cosimo Pastore
AU  - Rajendra Nath Patra
AU  - Stefania Perciballi
AU  - Francesco Piro
AU  - Francesco Prino
AU  - Luciano Ramello
AU  - Felix Reidt
AU  - Roberto Russo
AU  - Valerio Sarritzu
AU  - Umberto Savino
AU  - Serhiy Senyukov
AU  - Mario Sitta
AU  - Walter Snoeys
AU  - Jory Sonneveld
AU  - Miljenko Suljic
AU  - Triloki Triloki
AU  - Gianluca Usai
AU  - Haakan Wennlof
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2512.13339
ID  - 2512.13339
ER  -