TY  - RPRT
TI  - Quantum Noise Spectroscopy of Nanoscale Charge Defects in Silicon Carbide at Room Temperature
AU  - Jinpeng Liu
AU  - Yuanhong Teng
AU  - Yu Chen
AU  - Yixuan Wang
AU  - Chihang Luo
AU  - Jun Yin
AU  - Hao Li
AU  - Lixing You
AU  - Ya Wang
AU  - Qi Zhang
AU  - Fazhan Shi
PY  - 2025
DO  - 10.1126/sciadv.aej5462
UR  - https://arxiv.org/abs/2512.22521
ID  - 2512.22521
ER  -