TY - RPRT TI - Radiation tolerance tests on key components of the ePIC-dRICH readout card AU - S. Geminiani AU - B. R. Achari AU - N. Agrawal AU - M. Alexeev AU - C. Alice AU - R. Ammendola AU - P. Antonioli AU - C. Baldanza AU - L. Barion AU - A. Biagioni AU - A. Calivà AU - M. Capua AU - F. Capuani AU - A. Ciardiello AU - E. Cisbani AU - M. Chiosso AU - M. Contalbrigo AU - F. Cossio AU - M. Da Rocha Rolo AU - A. De Caro AU - D. De Gruttola AU - G. Dellacasa AU - D. Falchieri AU - S. Fazio AU - O. Frezza AU - N. Funicello AU - M. Garbini AU - N. Jacazio AU - F. Lo Cicero AU - A. Lonardo AU - R. Malaguti AU - F. Mammoliti AU - M. Martinelli AU - M. Mignone AU - C. Mingioni AU - M. Nenni AU - F. Noto AU - L. Occhiuto AU - A. Paladino AU - D. Panzieri AU - P. Perticaroli AU - S. Plavully AU - L. Polizzi AU - L. Pontisso AU - R. Preghenella AU - R. Ricci AU - L. Rignanese AU - C. Ripoli AU - C. Rossi AU - E. Rovati AU - N. Rubini AU - M. Ruspa AU - A. Saputi AU - F. Simula AU - F. Spizzo AU - U. Tamponi AU - E. Tassi AU - G. Torromeo AU - C. Tuvè AU - G. M. Urciuoli AU - S. Vallarino AU - P. Vicini AU - R. Wheadon PY - 2026 DO - 10.1088/1748-0221/21/04/c04039 UR - https://arxiv.org/abs/2601.09675 ID - 2601.09675 ER -