TY  - RPRT
TI  - Thicker amorphous grain boundary complexions reduce plastic strain localization in nanocrystalline Cu-Zr
AU  - Esther C. Hessong
AU  - Nicolo Maria della Ventura
AU  - Tongjun Niu
AU  - Daniel S. Gianola
AU  - Hyosim Kim
AU  - Nan Li
AU  - Saryu Fensin
AU  - Brad L. Boyce
AU  - Timothy J. Rupert
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2601.18059
ID  - 2601.18059
ER  -