TY  - RPRT
TI  - Damage accumulation induced metal-insulator transition through ion implantation of ScN thin films
AU  - Charlotte Poterie
AU  - Marc Marteau
AU  - Per Eklund
AU  - Thierry Cabioch
AU  - Jean-Francois Barbot
AU  - Arnaud le Febvrier
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2602.06757
ID  - 2602.06757
ER  -