TY  - RPRT
TI  - Quantitative models for excess carrier diffusion and recombination in STEM-EBIC experiments on semiconductor nanostructures
AU  - Tobias Meyer
AU  - Christoph Flathmann
AU  - David A. Ehrlich
AU  - Patrick Paap-Peretzki
AU  - Jonas Lindner
AU  - Christian Jooß
AU  - Michael Seibt
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2602.13711
ID  - 2602.13711
ER  -