TY  - RPRT
TI  - Influence of electrical properties on thermal boundary conductance at metal/semiconductor interface
AU  - Quentin Pompidou
AU  - Juan Carlos Acosta Abanto
AU  - M. Brouillard
AU  - Nicolas Bercu
AU  - L. Giraudet
AU  - Rami Sheikh
AU  - C. Adessi
AU  - S. Mérabia
AU  - S. Gomès
AU  - Pierre-Olivier Chapuis
AU  - J. -F. Robillard
AU  - Mihai Chirtoc
AU  - N. Horny
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2602.16725
ID  - 2602.16725
ER  -