TY  - RPRT
TI  - A Novel Approach for Fault Detection and Failure Analysis of CMOS Copper Metal Stacks
AU  - Gregor Hieronymus Eberwein
AU  - Gianluca Aglieri Rinella
AU  - Daniela Bortoletto
AU  - Szymon Bugiel
AU  - Francesca Carnesecchi
AU  - Antonello Di Mauro
AU  - Pedro Vicente Leitao
AU  - Hartmut Hillemanns
AU  - Marc Alain Imhoff
AU  - Antoine Junique
AU  - Alex Kluge
AU  - Magnus Mager
AU  - Paolo Martinengo
AU  - Iaroslav Panasenko
AU  - Ivan Ravasenga
AU  - Felix Reidt
AU  - Valerio Sarritzu
AU  - Walter Snoeys
AU  - Miljenko Šuljić
PY  - 2026
DO  - 10.1109/tns.2026.3671605
UR  - https://arxiv.org/abs/2603.16473
ID  - 2603.16473
ER  -