TY  - RPRT
TI  - Identification and Structural Characterization of Twisted Atomically Thin Bilayer Materials by Deep Learning
AU  - Haitao Yang
AU  - Ruiqi Hu
AU  - Heng Wu
AU  - Xiaolong He
AU  - Yan Zhou
AU  - Yizhe Xue
AU  - Kexin He
AU  - Wenshuai Hu
AU  - Haosen Chen
AU  - Mingming Gong
AU  - Xin Zhang
AU  - Ping-Heng Tan
AU  - Eduardo R Hernández
AU  - Yong Xie
PY  - 2026
DO  - 10.1021/acs.nanolett.3c04815
UR  - https://arxiv.org/abs/2604.15960
ID  - 2604.15960
ER  -