TY  - RPRT
TI  - Accurate Nanoscale Mapping of Electric Fields across Random Grain Boundaries in Polycrystalline Oxides Using Precession-Assisted 4D-STEM
AU  - Sangjun Kang
AU  - Hyeyoung Cho
AU  - Maximilian Töllner
AU  - Anna Rose Nelson
AU  - Ziming Ding
AU  - Xiaoke Mu
AU  - Di Wang
AU  - Wolfgang Rheinheimer
AU  - Kai Wang
AU  - Bai-Xiang Xu
AU  - Jakob Konstantin Laux
AU  - Mahmoud Serour
AU  - Karsten Albe
AU  - Andreas Klein
AU  - Christian Kübel
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2604.22398
ID  - 2604.22398
ER  -