TY  - RPRT
TI  - Stochastic first-passage modeling of single-event burnout in SiC power MOSFETs
AU  - Feiyi Liu
AU  - Min Guo
AU  - Shiyang Chen
AU  - Yuhan Jiang
AU  - Mingyang Liu
AU  - Yang Wang
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2605.02478
ID  - 2605.02478
ER  -