TY  - RPRT
TI  - Understanding oxide-thickness-dependent variability in dense Si-MOS quantum dot arrays
AU  - Arne Loenders
AU  - Jacques Van Damme
AU  - Clement Godfrin
AU  - Paola Favia
AU  - Jacopo Franco
AU  - Thomas Van Caekenberghe
AU  - Bart Raes
AU  - Gulzat Jaliel
AU  - Sylvain Baudot
AU  - Luis Francisco Pinotti
AU  - Alexander Grill
AU  - George Simion
AU  - Kristof Moors
AU  - Vukan Levajac
AU  - Sofie Beyne
AU  - Sugandha Sharma
AU  - Stefan Kubicek
AU  - Yosuke Shimura
AU  - Roger Loo
AU  - Massimo Mongillo
AU  - Danny Wan
AU  - Kristiaan De Greve
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2605.12143
ID  - 2605.12143
ER  -