TY  - RPRT
TI  - Impact of Surface Treatment on Noise in PL-Measurements of Silicon Vacancies in 4H-SiC Lateral pin-Diodes
AU  - Jannik H. Schwarberg
AU  - Fabian Magerl
AU  - Susanne Beuer
AU  - Alexander May
AU  - Christian Gobert
AU  - Martin Siebert
AU  - Christian Miersch
AU  - Heino Möller
AU  - Wolfgang Knolle
AU  - Chihang Luo
AU  - Jan F. Dick
AU  - Franziska C. Beyer
AU  - Mathias Rommel
AU  - Jörg Schulze
PY  - 2026
DO  - 10.1021/acs.nanolett.6c00646
UR  - https://arxiv.org/abs/2605.24157
ID  - 2605.24157
ER  -