TY  - RPRT
TI  - A variability-aware simulation and design workflow for wafer-scale, heterogeneously integrated lithium niobate modulators
AU  - Patrick Nenezic
AU  - Ewoud Vissers
AU  - Arno Moerman
AU  - Laurens Bogaert
AU  - Maximilien Billet
AU  - Xiujun Zheng
AU  - Tom Vanackere
AU  - Margot Niels
AU  - Athina Papadopoulou
AU  - Sarah Uvin
AU  - Peter De Heyn
AU  - Sandeep Saseendran
AU  - Simone Atzeni
AU  - Bart Kuyken
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2605.28765
ID  - 2605.28765
ER  -