TY  - RPRT
TI  - Measurements and simulations of X-ray radiation damage effects on CNM n-type 4H-SiC MOS capacitors
AU  - Khaoula Aouadj
AU  - Alessandro Fondacci
AU  - Arianna Morozzi
AU  - Daniele Passeri
AU  - Tommaso Croci
AU  - Sebastian Alexander Onder
AU  - Daniel Radmanovac
AU  - Thomas Bergauer
AU  - Serena Mattiazzo
AU  - Francesco Moscatelli
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2605.29375
ID  - 2605.29375
ER  -