TY  - RPRT
TI  - Thickness dependence of diode efficiency in superconducting Fe(Se,Te)/FeTe thin-film heterostructure devices
AU  - Kaito Arizono
AU  - Kenshin Inamura
AU  - Kouta Kondou
AU  - Yusuke Kobayashi
AU  - Tsutomu Nojima
AU  - Jobu Matsuno
AU  - Junichi Shiogai
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2606.27639
ID  - 2606.27639
ER  -