TY  - RPRT
TI  - Hidden Defect Chemistry in Ion-Irradiated MoS$_2$ Field-Effect Transistors Revealed by Photocurrent Loss
AU  - L. Daniel
AU  - D. Sutarma
AU  - L. Klieve
AU  - O. Kharsah
AU  - U. Hagemann
AU  - O. Altenhoff
AU  - S. Sleziona
AU  - L. Breuer
AU  - P. Kratzer
AU  - M. Schleberger
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2606.30361
ID  - 2606.30361
ER  -