TY  - RPRT
TI  - ICME 2026 Grand Challenge on Cross-Scenario Defect Detection and Fine-Grained Severity Grading for High-Precision Manufacturing
AU  - Wei Sun
AU  - Weixia Zhang
AU  - Linhan Cao
AU  - Mingkai Lu
AU  - Xiongkuo Min
AU  - Xiaoping Zhang
AU  - Patrick Le Callet
AU  - Guangtao Zhai
AU  - Hongxing Chen
AU  - Wenqi Wu
AU  - Zhenhao Hu
AU  - Shanshan Lin
AU  - Guanjie Huang
AU  - Kai Xie
AU  - Rui Xin
AU  - Zilong Zhao
AU  - Runmin Cong
AU  - Ningjing Li
AU  - Siqi Ma
AU  - Yi Jin Ong
AU  - Tianfei Zhou
AU  - Shunzhou Wang
AU  - Zhiyang Chen
AU  - Hao Fang
AU  - Chen Zhang
AU  - Tze-Hsiang Tang
AU  - Dikai Li
AU  - Xianjin Wu
AU  - Avinash Kumar Sharma
AU  - Zhaoyang Wang
AU  - Haiyong Chen
AU  - Binyi Su
AU  - Atik Shahariar
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2607.04675
ID  - 2607.04675
ER  -