TY  - RPRT
TI  - Calibration of systematic distortions in quantum emitter localization microscopy for deterministic nanophotonic fabrication
AU  - Chenxi Ma
AU  - Maximilian Heller
AU  - Timon Handrup
AU  - Yiteng Zhang
AU  - Tobias M. Krieger
AU  - Thomas Oberleitner
AU  - Zenghui Jiang
AU  - Xian Zheng
AU  - Eddy P. Rugeramigabo
AU  - Folke Dencker
AU  - Armando Rastelli
AU  - Fei Ding
AU  - Michael Zopf
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2607.05370
ID  - 2607.05370
ER  -