TY  - RPRT
TI  - Gate induced strain on a two-dimensional hole gas in silicon
AU  - D. van der Bovenkamp
AU  - C. S. A. Müller
AU  - B. D. Pantiru
AU  - I. Bošnjak
AU  - M. Cignoni
AU  - Q. Torrent Nicolau
AU  - M. E. Bal
AU  - S. Wiedmann
AU  - J. Ridderbos
AU  - F. A. Zwanenburg
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2607.07932
ID  - 2607.07932
ER  -