TY  - RPRT
TI  - Visualization of Defect Electronic States in Layered Semiconductor CrSBr
AU  - Jonathan Brunette
AU  - Joost Aretz
AU  - Kiyoung Jo
AU  - Aljoscha Soll
AU  - Zdeněk Sofer
AU  - Malte Rösner
AU  - Nathan Guisinger
AU  - Adina Luican-Mayer
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2607.21301
ID  - 2607.21301
ER  -