TY  - RPRT
TI  - Imaging of van der Waals Materials via Standing-Wave Photoemission Microscopy: Depth-Resolved Electronic Structure of WS2
AU  - J. R. Paudel
AU  - R. Muzzio
AU  - M. E. Matzelle
AU  - S. Sheikh
AU  - A. Fadul
AU  - A. Tiwari
AU  - F. Salmassi
AU  - E. Gullikson
AU  - K. M. McCreary
AU  - B. T. Jonker
AU  - J. Nieminen
AU  - C. M. Schneider
AU  - F. Kronast
AU  - A. Bansil
AU  - J. Katoch
AU  - A. X. Gray
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2607.23073
ID  - 2607.23073
ER  -