TY  - RPRT
TI  - Nanoscale graphitization and defect evolution in silicon-vacancy center-containing nanodiamonds under high-pressure high-temperature annealing
AU  - M. De Feudis
AU  - B. Yavkin
AU  - L. Henry
AU  - K. O. Ho
AU  - M. -P. Adam
AU  - P. Goldner
AU  - F. Benedic
AU  - S. Desgreniers
AU  - J. -F. Roch
PY  - 2026
DO  - 10.1016/j.carbon.2026.121960
UR  - https://arxiv.org/abs/2608.10632
ID  - 2608.10632
ER  -