TY  - RPRT
TI  - Disorder signatures emerging at millikelvin temperatures in Si/SiGe field-effect stacks
AU  - Lino Visser
AU  - Alberto Mistroni
AU  - Yuji Yamamoto
AU  - Fabian Fidorra
AU  - Oksana Fursenko
AU  - Steffen Marschmeyer
AU  - Marvin H. Zoellner
AU  - Giovanni Capellini
AU  - Dominique Bougeard
AU  - Vincent Mourik
AU  - Marco Lisker
AU  - Felix Reichmann
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2608.14224
ID  - 2608.14224
ER  -