TY  - RPRT
TI  - Optical Voltage Profiling of 2D Semiconductors via Proximal Exciton Sensing
AU  - Ha-Leem Kim
AU  - Hyungbin Lim
AU  - Yuanyi Yang
AU  - Ruishi Qi
AU  - Ruichen Xia
AU  - Can Uzundal
AU  - Takashi Taniguchi
AU  - Kenji Watanabe
AU  - Feng Wang
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2608.18382
ID  - 2608.18382
ER  -