TY  - RPRT
TI  - Fast On-Chip Thermometry with TiN Kinetic Inductance Resonators in 22 nm Process Technology
AU  - Johann Drayne
AU  - George Ridgard
AU  - Lorenzo Peri
AU  - Frederic Schlattner
AU  - Fabio Olivieri
AU  - Mathieu de Kruijf
AU  - Isaac Harris
AU  - Grayson Noah
AU  - James Kirkman
AU  - Alberto Gomez-Saiz
AU  - M. Fernando Gonzalez-Zalba
AU  - Thomas Swift
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2608.27057
ID  - 2608.27057
ER  -