TY  - RPRT
TI  - Determination of van der Waals thin film thickness via characteristic X-ray photon yield
AU  - Guoshun Luo
AU  - Shichao Zhao
AU  - Xinyu Liu
AU  - Suguo Chen
AU  - Yue Wang
AU  - Ping Zhang
AU  - Zhigang Lu
AU  - Shaomeng Wang
AU  - Sunchao Huang
AU  - Yubin Gong
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2610.01309
ID  - 2610.01309
ER  -