TY  - RPRT
TI  - Access Rate-Dependent Endurance Behavior of Ferroelectric Hafnium Zirconium Oxide Capacitors
AU  - Roberto Guido
AU  - Julie Laguerre
AU  - Pramoda Vishnumurthy
AU  - Florian Wunderwald
AU  - Kristina Holsgrove
AU  - Thomas Mikolajick
AU  - Sou-Chi Chang
AU  - Alfred Kersch
AU  - Uwe Schroeder
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2610.20154
ID  - 2610.20154
ER  -