TY  - RPRT
TI  - Efficient Simulation of Gate Leakage Currents in Ultra-scaled Transistors from First Principles
AU  - Mauro Dossena
AU  - Nicolas Vetsch
AU  - Alexander Maeder
AU  - Anders Winka
AU  - Vincent Maillou
AU  - Denghui Lu
AU  - Alexandros Nikolaos Ziogas
AU  - Jiang Cao
AU  - Mathieu Luisier
PY  - 2026
UR  - https://arxiv.org/abs/2610.40929
ID  - 2610.40929
ER  -