TY  - RPRT
TI  - Analysis of the Metallic Phase of Two-Dimensional Holes in SiGe in Terms of Temperature Dependent Screening
AU  - V. Senz
AU  - T. Ihn
AU  - T. Heinzel
AU  - K. Ensslin
AU  - G. Dehlinger
AU  - D. Grutzmacher
AU  - U. Gennser
PY  - 2000
DO  - 10.1103/physrevlett.85.4357
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0004312
ID  - cond-mat/0004312
ER  -