TY  - RPRT
TI  - Dependence of the gap parameter on the number of CuO2 layers in a unit cell of optimally doped BSCCO, TBCCO, HBCCO and HSCCO
AU  - Ya. G. Ponomarev
AU  - N. Z. Timergaleev
AU  - A. O. Zabezhaylov
AU  - Kim Ki Uk
AU  - M. A. Lorenz
AU  - G. Mueller
AU  - H. Piel
AU  - H. Schmidt
AU  - C. Janowitz
AU  - A. Krapf
AU  - R. Manzke
PY  - 2001
UR  - https://arxiv.org/abs/cond-mat/0111342
ID  - cond-mat/0111342
ER  -